内存金字塔详解:速度、容量与成本的权衡
前言:从砖块到大楼上一篇我们把三种存储单元拆开看了:SRAM 的锁存器、DRAM 的电容、NAND 的浮栅——那是”砖块”的故事。 但一台真实的计算机,从不会只用一种存储器。它把好几种存储器组装成一栋大楼:快的在上、慢的在下,贵的少放、便宜的多放,中间靠搬运工衔接。 这就是今天的主角:存储层级(Memory Hierarchy),江湖人称”内存金字塔”。 为什么要分层?因为世界上不存在又快、又大、又便宜的存储器。SRAM 快但贵,NAND 便宜但慢,谁也通吃不了——于是工程师让它们组队分工。 一、完整的金字塔:从寄存器到硬盘 完整的内存金字塔:寄存器、三级缓存、主内存、HBF、SSD 与硬盘——HBF 是新插入的层级 从上往下逐层看一遍。先说明:下面的数字都是典型量级,不同产品、不同年份差别很大,看数量级就好。 寄存器(Register):CPU 内部直接装载数据的格子,延迟不到 1 纳秒,容量按 KB 甚至”个”来数——快到没朋友,也贵到没法按 GB 报价。 L1 / L2 / L3 缓存:全由 SRAM 组成。L1 延迟约 1ns、几十 K...
存储的最小单元:SRAM、DRAM 与 NAND 怎么存 1 个 bit
前言:兑现预告——差别就在”怎么存 1 个 bit”上一篇结尾我们说:接下来把”存储的最小单元”讲透——SRAM、DRAM 和 NAND,分别是怎么存 1 个 bit 的? 你可能会想:这跟我有什么关系?关系很大。三种存储器的所有性格差异,几乎都写在它们的最小单元里: 为什么 CPU 缓存那么快,却只做得起几十 MB? 为什么内存条隔几十毫秒就要”刷新”一次? 为什么 SSD 断了电,数据还在? 这三个问题的答案,都要从”存 1 个 bit”说起。 打个比方:存储器是大楼,存储单元就是砖块。砖块的形状和材质,决定了楼能盖多高、造价多贵、住得舒不舒服。今天我们就把三种砖块逐一拆开看。 一、SRAM:六个晶体管互相”锁死”SRAM(Static Random Access Memory,静态随机存取存储器),就是 CPU 里 L1/L2/L3 缓存的原材料。 它存 1 个 bit 的方式,是三种里面最”豪华”的——用 6 个晶体管(行话叫 6T 单元)。 两个反相器,首尾相接**反相器(Inverter)**是个”说反话”的装置:输入 1 它输出 0,输入 0...
从 DRAM 到 HBF:认识高带宽闪存
前言:AI 时代,最难的不是”算”,而是”搬”你可能听过一个词:AI 大模型。这些模型的训练和推理,需要海量数据在芯片之间飞速流动。 有一个反直觉的事实:很多时候,限制 AI 速度的不是算力,而是数据搬运的速度。芯片算得再快,如果数据”喂”不上来,也只能干等。 为了打通这个瓶颈,存储行业最近推出了一个新概念——HBF(High Bandwidth Flash,高带宽闪存)。 但想真正理解 HBF,我们得先从最基础的内存说起:DRAM。 一、先认识 DRAM:计算机的”工作台”两种存储器:会”忘”的和不会”忘”的在进入正题前,先分清两类存储: 易失性(Volatile):一断电,数据就没了,但速度非常快。代表就是 DRAM。 非易失性(Non-volatile):断电后数据还在,但速度慢一些。代表是 NAND Flash(U 盘、SSD 里的那种)。 一个很形象的比喻: DRAM 就像工作台:放正在用的工具,伸手就拿,但收工后要清空。 NAND Flash 就像仓库:东西长期存放,但取用要走几步路。 内存金字塔:快慢贵廉的分工计算机里,存储是分层的,越靠上越快、越贵、容量越...
NAND 物理概念介绍
NAND Flash:我们身边的”数据仓库”什么是 NAND Flash? 它是一种非易失性存储介质,就像一个不需要插电也能保存文件的”保险柜”——即使断电,数据也不会丢失。 无处不在的身影 U 盘、SD 卡、固态硬盘(SSD)、手机存储……从消费电子到工业设备,它几乎无处不在。 为什么选择它? 速度快、体积小、功耗低、抗震性强,彻底改变了我们存储和使用数据的方式。 数据的最小容器:浮栅晶体管(Floating-gate MOSFET) 普通场效应管(MOSFET) 结构:单一控制栅极,如同普通的门 功能:仅控制电流通断,类似物理开关 特点:易失性,断电或撤去电压即恢复初始状态 浮栅晶体管(NAND 核心单元) 结构:控制栅极 + 悬浮”浮栅”结构 功能:通断控制 + 捕获电子并长期保存 特点:非易失性,电子一旦被浮栅捕获便很难逃逸 核心差异:浮栅(Floating Gate)的存在,让晶体管从”临时开关”进化为”永久记忆体”。 NAND Flash 核心原理:如何”写入”和”清空”数据? 编程(Program)— 写入 '1' ...
Read Level 介绍
Cell 物理结构:FGMOSNAND Flash 最基本的存储单元称为一个 Cell,每个 Cell 由一颗 FGMOS(浮栅型金属-氧化物-半导体场效应晶体管,Floating-gate MOSFET)构成。 相比普通 MOSFET,FGMOS 多了一层关键的 浮栅(Floating Gate)——它被上下两层氧化层包裹,形成一个物理上隔离的电子陷阱,可以长期束缚存储的电子。 Vth:Cell 的导通临界电压MOSFET 本质是一个电压控制的可变电阻:在栅极(Gate)与源极(Source)之间施加电压 Vgs,就能改变漏极(Drain)与源极之间的导通程度,进而影响读出的电压值。 Vgs 与导通状态的关系十分明确: Vgs < Vth → Cell 截止,无电流通过,读出电压为 0 Vgs ≥ Vth → Cell 导通,电流随 Vgs 增大而上升,读出电压也随之升高 Vth(阈值电压) 就是这个”刚好导通”的临界值。Vth 越高,说明需要更大的 Vgs 才能导通 Cell——导通难度越大。 浮栅如何调控 Vth?浮栅的根本功能是存储电子。通过改变存储的电子数...
Nand Training
Nand Training Feature NAND 设备在超过 800MT/s 的重载系统中应支持本章节所述的 Training 功能。 Nand Training Type ZQ Calibration DCC Training Read DQ Training Write DQ Training WDCA(Option) Internal VrefQ ZQ CalibrationZQ Calibration 介绍ZQ Calibration 是一种电子调整过程,用于精确设定芯片 I/O 接口的电阻值,确保高速数据传输中信号的清晰与稳定。其原理类似于调音师用标准音叉校准乐器 —— ZQ Calibration 以一个外部精密参考电阻为基准,校准芯片内部电路的阻抗,使芯片在各种环境变化下都能保持最佳性能。 作为一个动态、持续的过程,内存控制器会在初始化、退出低功耗状态或定期发起 ZQ Calibration 命令,让内存芯片根据实时温度和电压重新校准,确保从轻载到重载的全工况下均处于最佳状态。 核心功能: 动态阻抗匹配 补偿环境温度 提升系统稳定性 ...
Nand Vth 阈值分布
从 SLC 看 Vth 分布阈值电压(Vth)是 NAND Cell 导通/截止的临界电压,也是判断 Cell 存储数据的核心指标。(Vth 的物理机制详见 Read Level 介绍) 芯片中并非所有 Cell 共享同一个精确的 Vth 值——几百万个 Cell 的 Vth 聚合起来,会形成一种统计分布。这正是本文要讲的内容。 SLC(Single-Level Cell)每个 Cell 只存 1bit,只需要两种状态:擦除态(Erased) 和 编程态(Programmed)。 两种状态在 Vth 分布上表现为两个独立、清晰的分布峰。读取时只需在峰谷之间设置一个读取电压 RL1,通过比较每个 Cell 的 Vth 与 RL1 的大小,即可区分出 0 和 1。 TLC 的 8 峰分布 TLC(Triple-Level Cell)每个 Cell 存 3bit,3bit 共 8 种逻辑状态: 111 110 100 000 010 011 001 101 8 种状态在 Vth 分布上各占一个独立区间,呈现 8 个分布峰。相比 SLC,TLC 的峰更密、峰间距...











