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Nand 物理概念介绍

发表于2026-06-12|更新于2026-06-12|Nand Flash
|总字数:0|阅读时长:0分钟|浏览量:
文章作者: 咕噜元
文章链接: https://www.edison007.top/1635c003.html
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Cell 物理结构:FGMOSNAND Flash 最基本的存储单元称为一个 Cell,每个 Cell 由一颗 FGMOS(浮栅型金属-氧化物-半导体场效应晶体管,Floating-gate MOSFET)构成。 相比普通 MOSFET,FGMOS 多了一层关键的 浮栅(Floating Gate)——它被上下两层氧化层包裹,形成一个物理上隔离的电子陷阱,可以长期束缚存储的电子。 Vth:Cell 的导通临界电压MOSFET 本质是一个电压控制的可变电阻:在栅极(Gate)与源极(Source)之间施加电压 Vgs,就能改变漏极(Drain)与源极之间的导通程度,进而影响读出的电压值。 Vgs 与导通状态的关系十分明确: Vgs < Vth → Cell 截止,无电流通过,读出电压为 0 Vgs ≥ Vth → Cell 导通,电流随 Vgs 增大而上升,读出电压也随之升高 Vth(阈值电压) 就是这个”刚好导通”的临界值。Vth 越高,说明需要更大的 Vgs 才能导通 Cell——导通难度越大。 浮栅如何调控 Vth?浮栅的根本功能是存储电子。通过改变存储的电子数...

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